半导体装置、半导体装置的制造方法及壳体框架
专利权的终止
摘要
本发明提供一种半导体装置,其结构为,具有:基体;半导体芯片,其固定在该基体的第一面上;芯片覆盖壳体,其以覆盖所述半导体芯片的方式设置在所述基体的所述第一面上,形成将所述半导体芯片包含在内的中空的第一空间部,并且,设置有大致呈圆筒状的开口部,该开口部在所述第一空间部的向外侧延伸的前端具有开口端且与所述第一空间部连通;第一树脂模制部,其以形成所述第一空间部、且露出所述开口端的方式经由该芯片覆盖壳体覆盖所述基体,并将所述基体和所述芯片覆盖壳体固定为一体。
基本信息
专利标题 :
半导体装置、半导体装置的制造方法及壳体框架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101142672A
申请号 :
CN200680008182.0
公开(公告)日 :
2008-03-12
申请日 :
2006-03-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
齐藤博铃木利尚大村昌良
申请人 :
雅马哈株式会社
申请人地址 :
日本静冈县
代理机构 :
北京市柳沈律师事务所
代理人 :
葛青
优先权 :
CN200680008182.0
主分类号 :
H01L23/02
IPC分类号 :
H01L23/02 H04R19/04
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/02
容器;封接
法律状态
2015-05-06 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101608725815
IPC(主分类) : H01L 23/02
专利号 : ZL2006800081820
申请日 : 20060314
授权公告日 : 20090722
终止日期 : 20140314
号牌文件序号 : 101608725815
IPC(主分类) : H01L 23/02
专利号 : ZL2006800081820
申请日 : 20060314
授权公告日 : 20090722
终止日期 : 20140314
2009-07-22 :
授权
2008-05-07 :
实质审查的生效
2008-03-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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