一种芯片框架式封装的芯片载片台
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种芯片框架式封装的芯片载片台。在封装芯片时,考虑到粘接剂的溢出问题,限制了封装体尺寸的减小,影响了一种框架对不同尺寸芯片的通用性。本实用新型提供一种芯片载片台包括一台面,在其固定芯片的位置周围开设有一圈环形凹槽,为粘接芯片提供了外溢粘接剂的容置空间,可以有效地控制载片台的大小。

基本信息
专利标题 :
一种芯片框架式封装的芯片载片台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720072247.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-07-06
授权号 :
CN201054348Y
授权日 :
2008-04-30
发明人 :
陈金华
申请人 :
威宇科技测试封装有限公司
申请人地址 :
201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路669号
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
陈亮
优先权 :
CN200720072247.X
主分类号 :
H01L23/13
IPC分类号 :
H01L23/13  H01L23/48  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/12
安装架,例如不可拆卸的绝缘衬底
H01L23/13
按形状特点进行区分的
法律状态
2016-08-24 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101675815109
IPC(主分类) : H01L 23/13
专利号 : ZL200720072247X
申请日 : 20070706
授权公告日 : 20080430
终止日期 : 20150706
2009-02-11 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更事项 : 专利权人
变更前 : 威宇科技测试封装有限公司
变更后 : 日月光封装测试(上海)有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路669号,邮编 : 201203
变更后 : 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路669号,邮编 : 201203
2008-04-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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