一种芯片测试座
授权
摘要

本实用新型涉及芯片测试技术领域,提供一种芯片测试座,包括固定座,固定座自底部向上一次开设有容置槽和螺孔;散热器,散热器包括导热部和散热部,导热部的下端经螺孔设于容置槽内,且导热部的下端固定连接有防脱件;压接件,压接件套设在导热部的外部,其外壁与螺孔螺纹连接,压接件的底部压接在防脱件的上方;热电偶,热电偶的检测端与导热部的底端平齐;本实用新型旨在提供一种散热性能优良的芯片测试座。

基本信息
专利标题 :
一种芯片测试座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920612417.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-04-30
授权号 :
CN210015133U
授权日 :
2020-02-04
发明人 :
郭观水刘志赟
申请人 :
深圳市致宸信息科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道科技南八路2号豪威科技大厦2101室
代理机构 :
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
胡国英
优先权 :
CN201920612417.1
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2020-02-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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