一种适用于金属干法刻蚀半导体设备的刻蚀腔室
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摘要

本实用新型公开了一种适用于金属干法刻蚀半导体设备的刻蚀腔室,涉及金属干法刻蚀设备技术领域,该适用于金属干法刻蚀半导体设备的刻蚀腔室,包括刻蚀室,所述刻蚀室的底板上开设有滑槽,所述滑槽的内部设置有滑块,所述滑块远离滑槽的一端固定连接有活动盘,所述活动盘远离滑块的一侧固定连接有支撑台。该适用于金属干法刻蚀半导体设备的刻蚀腔室,通过设置支撑台、填充块和卡框,能够将需要刻蚀的半导体晶片固定在活动盘,便于对半导体晶片进行刻蚀去除不需要的部分,避免了在刻蚀时半导体晶片被轰击后表面处于倾斜状态,导致刻蚀的均匀性极大受到影响的情况出现,实现了将半导体晶片固定,防止其在刻蚀时倾斜的目的。

基本信息
专利标题 :
一种适用于金属干法刻蚀半导体设备的刻蚀腔室
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920887121.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-13
授权号 :
CN210073761U
授权日 :
2020-02-14
发明人 :
廖海涛
申请人 :
江苏邑文微电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市如东县掘港街道金山路1号
代理机构 :
北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
施荣华
优先权 :
CN201920887121.0
主分类号 :
H01J37/20
IPC分类号 :
H01J37/20  H01J37/305  H01L21/67  H01L21/687  H01L21/677  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,例如为了对其检验或加工的
H01J37/02
零部件
H01J37/20
物体或材料的支承或定位装置;与支架相联的光阑或透镜的调整装置
法律状态
2020-02-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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