一种半导体致冷片老化测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种半导体致冷片老化测试装置，涉及半导体致冷片技术领域。半导体致冷片老化测试装置包括测试台、限位组件、第一导热板、第二导热板和测试控制器，第一导热板的底面与待测致冷片的冷面贴合，测试控制器包括处理器、供电电源、变换开关、检测组件和计时计数器，变换开关设于供电电源与所述待测致冷片之间，检测组件包括温度传感器和电流传感器，电流传感器的输入端与致冷片电性连接。本实用新型通过测试控制器的设计，以采用自动化的方式对待测致冷片进行老化测试，防止了由于采用人工手动测试导致的测试效率低下、测试精准度低的现象。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体致冷片老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921083818.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-11
授权号 ：
CN210222189U
授权日 ：
2020-03-31
发明人 ：
阮秀沧黄锦局
申请人 ：
泉州市依科达半导体致冷科技有限公司
申请人地址 ：
福建省泉州市经济开发区孵化基地科技工业楼二楼A区
代理机构 ：
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴东勤
优先权 ：
CN201921083818.9
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-03-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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