一种多功能半导体三极管测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及三极管测试设备技术领域，具体为一种多功能半导体三极管测试装置，包括测试电箱，测试电箱的内腔设置有测试电路，测试电箱的前端面上端设置有螺纹孔，螺纹孔的内腔安装有插座，插座的前端插接有插头，有益效果为：本实用新型通过设置带有接线柱的插座与测试电路连接，进而避免与电路导线之间多次连接，利用插座与插头之间的配合，实现多个不同规格插头的快速更换，进而利用插头匹配不同规格的三极管，增大适用范围；通过设置连接插片与金属拨片之间的贴合，实现三极管与电路之间的快速安装，利用插孔与引线的配合，避免导线与引线之间的缠绕连接，提高了安装和测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种多功能半导体三极管测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921492203.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-09
授权号 ：
CN210326331U
授权日 ：
2020-04-14
发明人 ：
杨洋
申请人 ：
扬州信尚电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市邗江区杨庙镇新杨村
代理机构 ：
南京常青藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
毛洪梅
优先权 ：
CN201921492203.1
主分类号 ：
H01R13/627
IPC分类号 ：
H01R13/627 H01R13/629 H01R13/502 H01R13/703 H01R13/622 H01L21/67 H01L21/66
法律状态
2020-04-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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