一种应用于芯片测试的连接机构
授权
摘要
本实用新型涉及一种应用于芯片测试的连接机构，包括接触器和固定壳组，所述接触器为类“W”形结构，所述固定壳组包括盖板和底板，所述盖板上设置一个槽口一，所述底板上对称设置两个槽口二，所述槽口一和槽口二用于定位固定接触器，所述接触器卡固在槽口一和两个槽口二内。本实用新型通过盖板和底板内设置的槽口一和槽口二将接触器定位固定，通过接触器的头部模块接通芯片，通过接触器的两个尾部模块接通PCB板，有效解决芯片测试的大电流，满足大电流测试的要求。
基本信息
专利标题 ：
一种应用于芯片测试的连接机构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921989869.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-18
授权号 ：
CN211478543U
授权日 ：
2020-09-11
发明人 ：
刘凯殷岚勇杨菊芬
申请人 ：
苏州韬盛电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区唯文路18号
代理机构 ：
合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘跃
优先权 ：
CN201921989869.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-09-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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