一种晶圆双面曝光对准标记位置测量仪器
授权
摘要

本实用新型公开了一种晶圆双面曝光对准标记位置测量仪器,包括放置平台,放置平台一侧安装有左卧式显微镜安装架,左卧式显微镜安装架上安装左卧式显微镜,放置平台另一侧安装右卧式显微镜安装架,右卧式显微镜安装架上安装右卧式显微镜,左卧式显微镜一侧安装左CCD相机,右卧式显微镜一侧安装右CCD相机,放置平台上还安装有支撑架,支撑架上安装有测量平台,测量平台上放置的透明型测量标尺,支撑架设置在放置平台中部,本实用新型结构设计新颖,可有效、便捷的检测出市面上双向功率器件产品在加工过程中正反两面曝光位置的一致性,有效的控制各晶圆厂因曝光位置不一导致的产品报废、低良率,最终达到提高双向曝光产品良率的目的。

基本信息
专利标题 :
一种晶圆双面曝光对准标记位置测量仪器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922254813.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-16
授权号 :
CN211207072U
授权日 :
2020-08-07
发明人 :
崔文荣
申请人 :
江苏晟驰微电子有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市海安经济技术开发区康华路55号
代理机构 :
北京天盾知识产权代理有限公司
代理人 :
张彩珍
优先权 :
CN201922254813.4
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  G03F9/00  G01B11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2020-08-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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