一种半导体制冷芯片检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及半导体制冷芯片领域,尤其涉及一种半导体制冷芯片检测装置。包括机架和气动装置;气动装置包括压板、气缸和两根导柱;压板安装在气缸下方;两根导柱设在气缸两侧,并穿过压板上的通孔;机架包括底座、垫板、支承板和顶板;垫板安装在底座上,并开有可供导柱通过的通孔;垫板两侧均设有支承板;顶板设在支承板的顶部,其上开有可供导柱插入的通孔;气动装置设在顶板下方,导柱两端插入垫板和顶板的通孔。本实用新型起到一个类似预装的效果,在半导体制冷芯片出厂之前,使用检测装置对芯片施加压力,模拟实际安装情况,对芯片进行筛选,使得安装好后的故障率下降,减少返工,节约生产成本。

基本信息
专利标题 :
一种半导体制冷芯片检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922289800.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-19
授权号 :
CN211374954U
授权日 :
2020-08-28
发明人 :
黄辉
申请人 :
佛山零度电器有限公司
申请人地址 :
广东省佛山市顺德区杏坛镇昌教工业园二路6号之一
代理机构 :
广州积特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李嘉怡
优先权 :
CN201922289800.0
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-08-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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