一种用于测试半导体的调节装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于测试半导体的调节装置,包括工作台,所述工作台的顶部外壁上开有矩形槽,所述矩形槽相对的两侧内壁上设有夹持机构,所述矩形槽其余两侧内壁上均粘接有橡胶垫,所述工作台的顶部外壁上通过螺栓固定有安装座,安装座的顶部内壁上转动插接有固定柱,所述固定柱的圆周外壁上套接有连接板,所述连接板的底部外壁上通过螺栓固定有两个横板,所述横板相对的一侧外壁上通过螺栓固定有同一个滑轨,滑轨的一侧外壁上滑动连接有滑块。本实用新型通过把手可以带动固定柱转动,通过移动滑块和下拉伸缩弹簧,可以将电笔移动至任何位置,便于对电路板上的分布在不同区域的半导体进行测试,使用方便。
基本信息
专利标题 :
一种用于测试半导体的调节装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922346594.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-24
授权号 :
CN211603436U
授权日 :
2020-09-29
发明人 :
范彩凤
申请人 :
上海北臻电子科技有限公司
申请人地址 :
上海市金山区枫泾镇环东一路65弄2号3541室
代理机构 :
上海海贝律师事务所
代理人 :
范海燕
优先权 :
CN201922346594.2
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01R31/28 G01R1/02 G01R1/04 F21V33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-09-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载