本实用新型公开了一种芯片测试座，包括底座，所述底座的顶部中心设置有连接槽，所述连接槽的内部设置有连接块，所述连接块的内部等距设置有测试探针，所述底座的顶部设置有座盖，所述座盖的表面且与测试探针探针相对应的位置开设有限位孔，所述限位孔的内部设置有测试芯片,所述测试探针为两侧等距分布，且与测试芯片的接触位相对应,所述限位孔的外侧为倒锥状设计，所述限位孔的内侧与芯片过渡配合,本实用新型涉及电子技术领域。该一种芯片测试座，可配合电气设备进行自动化检测，且结构简单、安装便捷，同时可多测试座联合使用，测试效率高。