铟柱焊点的制备方法、芯片衬底及芯片
授权
摘要

本申请公开了一种铟柱焊点的制备方法、芯片衬底及芯片。所述方法包括:在衬底上涂敷第一光刻胶层,进行第一烘烤;在第一光刻胶层上涂敷第二光刻胶层,进行第二烘烤;对第二光刻胶层进行欠曝光,进行第三烘烤;对经欠曝光和第三烘烤后的第二光刻胶层进行显影和定影,以在第二光刻胶层上形成底切结构,该衬底带有光刻胶结构;对带有光刻胶结构的衬底进行泛曝光,进行第四烘烤;在经泛曝光和第四烘烤之后,刻蚀第一光刻胶层形成图形限制层;在图形限制层的定义图形位置处沉积铟材料形成铟柱焊点;将第一光刻胶层和第二光刻胶层从衬底上剥离,得到带有铟柱焊点的衬底。本申请能够避免铟柱底部产生侧向扩散的问题,保护衬底其他位置不受影响。

基本信息
专利标题 :
铟柱焊点的制备方法、芯片衬底及芯片
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112652540A
申请号 :
CN202010624967.2
公开(公告)日 :
2021-04-13
申请日 :
2020-07-01
授权号 :
CN112652540B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
张文龙杨楚宏郑亚锐张胜誉
申请人 :
腾讯科技(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层
代理机构 :
北京三高永信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
张所明
优先权 :
CN202010624967.2
主分类号 :
H01L21/48
IPC分类号 :
H01L21/48  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/48
应用H01L21/06至H01L21/326中的单一小组都不包含的方法,在器件组装之前制造或处理部件,例如容器
法律状态
2022-04-22 :
授权
2021-04-30 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/48
申请日 : 20200701
2021-04-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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