碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管及其制造方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管及其制造方法,该晶体管包括第一和第二元胞,它们共同包括漏极电极层、欧姆接触层、衬底层、外延层、层间介质层和源极电极层,第一元胞还包括第一深阱区、第二深阱区、第一浅阱区、第二浅阱区、第一源区、第二源区、第一栅氧化层和第一多晶硅栅极,第二元胞还包括第三深阱区、第四深阱区、第三浅阱区、第四浅阱区、第二栅氧化层、第三栅氧化层、第二多晶硅栅极和第三多晶硅栅极。该晶体管不但可以保证自身具有短路电流密度低、短路耐量高和短路时间长等优点,而且可以在降低体二极管正向压降的同时降低肖特基二极管的反向漏电流。
基本信息
专利标题 :
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管及其制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114388606A
申请号 :
CN202011120756.1
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2020-10-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈道坤史波林苡任曾丹
申请人 :
珠海格力电器股份有限公司;珠海零边界集成电路有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市前山金鸡西路
代理机构 :
北京聿宏知识产权代理有限公司
代理人 :
吴大建
优先权 :
CN202011120756.1
主分类号 :
H01L29/06
IPC分类号 :
H01L29/06 H01L29/78 H01L21/336
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 29/06
申请日 : 20201019
申请日 : 20201019
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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