提高载流子注入效率的GaN基LED外延结构及其生长方法
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摘要

本发明公开了一种提高载流子注入效率的GaN基LED外延结构及其生长方法,该发光层由势垒层和量子阱层交替构成,其中按生长顺序,最后一层势垒层采用Al组分即x值从0至0.15渐变的AlxGa1‑xN势垒层,其它势垒层为GaN势垒层,子阱层采用InyGa1‑yN量子阱层,y为0.1~0.3。本发明去除生长AlGaN电子阻挡层,能够减少p型Mg掺杂AlGaN带来的空穴势垒的提高,同时减少生长AlGaN时带来的严重的晶格缺陷和较大应力,以及其高温生长条件对发光层结构的高温损伤,提高芯片质量,采用Al组分渐变的AlxGa1‑xN最后一层势垒层,依然能实现有效提高电子势垒的作用,同时还能有效地降低空穴势垒,不但抑制了电子泄漏还进一步提高了空穴注入能力,从而提高了发光层中有效辐射复合速率,提高了GaN基LED的发光效率。

基本信息
专利标题 :
提高载流子注入效率的GaN基LED外延结构及其生长方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112436081A
申请号 :
CN202011195588.2
公开(公告)日 :
2021-03-02
申请日 :
2020-10-31
授权号 :
CN112436081B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
程立文李侦伟林星宇曾祥华杨达
申请人 :
扬州大学
申请人地址 :
江苏省扬州市大学南路88号
代理机构 :
南京理工大学专利中心
代理人 :
邹伟红
优先权 :
CN202011195588.2
主分类号 :
H01L33/32
IPC分类号 :
H01L33/32  H01L33/06  H01L33/12  H01L33/14  H01L33/00  B82Y40/00  
法律状态
2022-06-07 :
授权
2021-03-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 33/32
申请日 : 20201031
2021-03-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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