一种芯片测试座
授权
摘要
本实用新型实施例公开了一种芯片测试座，包括：底座；槽体，设置在底座上；绝缘弹性棒，位于槽体的卡槽中；至少一个导电金属片，位于槽体中；导电金属片包括相对设置的第一边和第二边；第一边包括至少两个弧形边，设置于第一边中点的两侧；第二边与绝缘弹性棒的表面至少部分咬合接触；导电金属片还包括第一触点和第二触点；沿第一边的延伸方向，第一触点和第二触点设置于导电金属片的两端；第一触点用于与待测试芯片电连接，第二触点用于与测试线路板电连接；压板，设置于导电金属片远离绝缘弹性棒的一侧，压板与第一边的弧形边咬合接触，用于为导电金属片提供压力。本实用新型实施例提供的芯片测试座，能够实现芯片的高频测试并且高频测试效果较好。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020446885.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-31
授权号 ：
CN210835155U
授权日 ：
2020-06-23
发明人 ：
戴云王坚
申请人 ：
上海捷策创电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
孟金喆
优先权 ：
CN202020446885.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-06-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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