本实用新型公开了一种四拼直排芯片测试治具，包括基座，所述基座的上部设有芯片槽，所述芯片槽的前后两侧中间分别开设有第一感应槽、第二感应槽，所述第一感应槽、芯片槽、第二感应槽呈直线排列且前后贯穿于基座上，所述第一感应槽的深度和第二感应槽的深度不相等。本实用新型的有益效果是：通过第一销钉引导定位，可保证芯片放置精准，不会出现压伤、压坏，四个芯片槽可同时对四个芯片进行测试，芯片测试效率高，且本治具结构简单，便于生产。