本实用新型公开了一种四拼芯片的测试治具，包括基座，所述基座的上部设有方形排列的第一芯片槽、第二芯片槽、第三芯片槽、第四芯片槽，所述第一芯片槽连接有第一感应槽，所述第二芯片槽连接有第二感应槽，所述第三芯片槽连接有第三感应槽，所述第四芯片槽连接有第四感应槽。本实用新型的有益效果是：是一种高精度的检测治具，可同时检测两个、三个及四个芯片，也可单独检测一个芯片，且在芯片槽的两侧均设有圆台阶销钉，不仅定位精确，而且能保证每个芯片均不会被压伤，治具简单，便于加工。