一种芯片测试流水线
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试流水线，包括工作平台，所述工作平台上设置有传送机构和驱动机构，所述驱动机构用于抓取传送机构传送的用于承载芯片的测试治具，所述传送机构两侧设置有良品下料机构和不良品下料机构，所述工作平台上设置有两个下料孔，所述良品下料机构和所述不良品下料机构分别设置在两个所述下料孔的下方，当测试为良品时，所述驱动机构能够将测试治具通过其中一个下料孔放置在所述良品下料机构上，通过所述良品下料机构对产品进行下料，当测试为不良品时，所述驱动机构能够将测试治具通过另一个下料孔放置在不良品下料机构上，对不良品进行下料。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试流水线
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020584392.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-17
授权号 ：
CN212328972U
授权日 ：
2021-01-12
发明人 ：
黄辉
申请人 ：
深圳市芯片测试技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区横岗街道志盛社区隆盛花园兴龙阁5A
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020584392.1
主分类号 ：
B07C5/34
IPC分类号 ：
B07C5/34 B07C5/36 B07C5/38 B07C5/02
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/34
根据其他特殊性质来分选
法律状态
2021-01-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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