一种芯片测试流水线
授权
摘要
本申请公开了一种芯片测试流水线，流水线依次包括自动上料机、物料周转装置、辅助上料机、测试机以及自动下料装置，各部件之间通过传输线相连接；自动上料机抓取芯片；测试机对芯片进行检测；自动下料装置对芯片进行分拣。本申请的芯片测试流水线全程自动化测试，且为组合式结构，可以灵活组合，使得整条测试线始终处于最高效率状态；具有高低温宽泛温区快速切换的能力，对于芯片测试环节的老化可以替代传统的老化设备；充分利用测试模块可更新换代优势，实现多任务带入，具有柔性制造的显著特点；针对IC测试更新换代频繁的特点，采用了测试结构体模组化的方案，为快速产品更迭提供了设备持续的可用性。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试流水线
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021792538.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-24
授权号 ：
CN213398813U
授权日 ：
2021-06-08
发明人 ：
王树锋陈阳
申请人 ：
前海晶云（深圳）存储技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室（入驻深圳市前海商务秘书有限公司）
代理机构 ：
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黎坚怡
优先权 ：
CN202021792538.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 B65G37/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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