本实用新型属于测试机技术领域，尤其为一种芯片联动测试机，针对现有的芯片无法实现运输与检测同步进行的功能，从而造成芯片生产效率过低的问题，现提出如下方案，其包括底座，所述底座的顶部一侧转动安装有蜗杆与大蜗轮，蜗杆与大蜗轮相互啮合，大蜗轮的前侧固定安装有不完全齿轮，不完全齿轮的外侧啮合有齿轮，齿轮转动安装在底座的顶部。本实用新型将检测和运输同步进行，通过设置的不完全蜗杆，当人工转动把手的时候，不完全蜗杆的转动带动小蜗轮的转动，使得中空框得到竖直方向的运动，从而使得吸盘得到同样的运动，当吸盘向下运动的时候吸住不合格的废芯片，使得合格的芯片在传送带表面进行运输。