能检测多拓扑单元功率半导体器件的装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种能检测多拓扑单元功率半导体器件的装置，其包括能对功率半导体器件支撑与定位的元件载盘以及能驱动元件载盘升降的载盘升降驱动机构；在所述元件载盘上方设置适配板，在所述适配板上设置能与功率半导体器件适配电连接的连接器，所述适配板能在元件载盘上方平移，且适配板在元件载盘上平移后，适配板上的连接器能与功率半导体器件上相应的拓扑单元对齐，通过载盘升降机构驱动元件载盘上升后，适配板上的连接器能与功率半导体器件上所对应的拓扑单元电连接。本实用新型结构紧凑，能降低测试成本，提高测试精度以及测试效率，使用方便，安全可靠。
基本信息
专利标题 ：
能检测多拓扑单元功率半导体器件的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021052335.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-09
授权号 ：
CN212932850U
授权日 ：
2021-04-09
发明人 ：
梁林杰张文亮孙元鹏张军辉姚启明朱阳军
申请人 ：
山东阅芯电子科技有限公司
申请人地址 ：
山东省威海市荣成市崂山南路788号
代理机构 ：
苏州国诚专利代理有限公司
代理人 ：
韩凤
优先权 ：
CN202021052335.5
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-04-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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