本实用新型提供了一种用于光芯片波导微小缺陷的检测系统，包括工业相机、第一光学成像装置、第二光学成像装置、第一光源、第二光源、多维调节台和工控电脑，光芯片放置于多维调节台的上端，工业相机与工控电脑连接，工业相机、第一光学成像装置、第一光源、第二光学成像装置自上而下依次连接，第二光源与第二光学成像装置的侧面连接，第一光源为环形光源，第二光源为平行同轴光源；本实用新型与现有技术相比，结构简单，不用调节检测系统与线路板的距离，使用时只要调节调节台的高低即可成像，方便可靠，能清晰观察到光芯片微小缺陷的情况，扩展物距，使得镜头与检测物的工作距离很长，方便使用者对检测物操作，提高产品质量检测水平。