一种测试精准的半导体器件用测试座
授权
摘要
本实用新型涉及一种测试精准的半导体器件用测试座，包括：底座；陶瓷座，可上下移动的设置在底座内，且陶瓷座内开有凹槽；设置在凹槽内的定位陶瓷块，定位陶瓷块的顶部设有定位槽，且定位陶瓷块与凹槽的两侧形成了限位腔；底座的上方依次设有PCB基板和定位座；定位座的顶部设有盖板；定位座上设有两个凸台；测试片组件，通过可调一体式模组前后移动的设置在两个凸台之间；陶瓷座的顶部依次穿出PCB基板和定位座，且所述测试片组件设置在限位腔内，本实用新型能调制测试片针尖与芯片管脚接触的位置，还能通过陶瓷座配合压缩弹簧构成悬浮式配合产品下压时与测试片的接触缓冲提搞接触性能，有效控制整个测试产品的下压高度，对测试片和测试座形成保护。
基本信息
专利标题 ：
一种测试精准的半导体器件用测试座
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021495980.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-23
授权号 ：
CN212569023U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
闵哲
申请人 ：
苏州朗之睿电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区唯西路23号3幢A101室
代理机构 ：
苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
朱斌兵
优先权 ：
CN202021495980.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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