曝光装置和制造物品的方法
实质审查的生效
摘要

本发明更有利地防止在被照射表面上的光强度分布中重心光线的偏离。扫描曝光装置的照明光学系统具有第一遮光单元(18)和第二遮光单元(19),第一遮光单元包括第一和第二遮光构件,第一和第二遮光构件之间在扫描方向上的相对距离可变并且第一和第二遮光构件均具有在扫描方向上面向另一构件的端部的端部,第二遮光单元包括第三和第四遮光构件,第三和第四遮光构件之间在扫描方向上的相对距离可变并且第三和第四遮光构件均具有在扫描方向上面向另一构件的端部的端部。第一遮光单元和第二遮光单元分别布置在朝向光源侧和朝向非照射表面侧离开被照射表面的共轭平面的位置处。在垂直于扫描方向的方向上共轭平面中的预定位置,第一和第二遮光构件的互相面对的端部的中点与包括照明光学系统的光轴且与扫描方向垂直的平面之间的第一距离与上述平面与第三和第四遮光构件的互相面对的端部的中点之间的第二距离一致。

基本信息
专利标题 :
曝光装置和制造物品的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114365045A
申请号 :
CN202080061309.5
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2020-07-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
小林大辅
申请人 :
佳能株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
中国贸促会专利商标事务所有限公司
代理人 :
罗闻
优先权 :
CN202080061309.5
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G03F 7/20
申请日 : 20200721
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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