一种光电探测器芯片及其制备方法与应用
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种光电探测器芯片及其制备方法与应用。所述光电探测器芯片,包括依次层叠设置的底电极、第一GaN层、i‑InyGa1‑yN功能层、第二GaN层、i‑InxGa1‑xN功能层、第三GaN层和顶电极;其中,0≤x≤1,y>x;所述第一GaN层、所述第二GaN层、所述第三GaN层分别为n‑GaN层、p‑GaN层、n‑GaN层。所述光电探测器芯片为垂直结构双波段芯片,其中,垂直结构相较于横向结构能缩短载流子渡越距离,提高探测器的响应速度,能够有效提高探测器‑3dB带宽。双波段使得在所述光电探测器芯片上负载不同方向的电压,就可以实现不同波段的光电探测。

基本信息
专利标题 :
一种光电探测器芯片及其制备方法与应用
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114373814A
申请号 :
CN202111523820.5
公开(公告)日 :
2022-04-19
申请日 :
2021-12-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李国强柴吉星王文樑陈亮
申请人 :
华南理工大学
申请人地址 :
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
薛建强
优先权 :
CN202111523820.5
主分类号 :
H01L31/0352
IPC分类号 :
H01L31/0352  H01L31/101  H01L31/105  H01L31/11  H01L31/18  
法律状态
2022-05-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 31/0352
申请日 : 20211214
2022-04-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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