一种基于倍频原理的干涉位移测量系统及方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种基于倍频原理的干涉位移测量系统及方法,其中,光纤激光器发射的激光经光纤耦合器分成两路;第一路激光输入至光纤合束器;第二路激光经每一光纤环形器的第一端口、每一光纤环形器的第二端口输出至光纤探头,光纤探头将接收的光信号射向被测物体,被测物体反射的光依次经光纤探头、光纤环形器的第二端口、光纤环形器的第三端口、光纤滤波器输入至光纤合束器;光纤合束器将第一路激光和滤波后的光合为一束并输入至倍频晶体,倍频晶体对输入的光进行倍频处理后依次光电探测器、信号采集装置输入至数据处理装置。本测量系统采用倍频晶体调节信号光的频率,可以增加干涉条纹的数量,提高了低速测量的时间分辨率和测量精度。

基本信息
专利标题 :
一种基于倍频原理的干涉位移测量系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264238A
申请号 :
CN202111593146.8
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曾小龙张世伟王志远郭顺和范端罗胜年
申请人 :
西南交通大学
申请人地址 :
四川省成都市二环路北一段111号
代理机构 :
北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司
代理人 :
王月松
优先权 :
CN202111593146.8
主分类号 :
G01B11/02
IPC分类号 :
G01B11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20211223
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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