一种刻蚀托盘及刻蚀方法
实质审查的生效
摘要

本申请实施例公开了一种刻蚀托盘及刻蚀方法,该刻蚀托盘包括:下片和上片,上片覆盖下片表面,下片的材料为金、银、铜、铝中的一种,上片的材料为碳化硅、氮化铝、石墨中的一种,使得该刻蚀托盘为由散热能力较好的材料和散热能力较差的材料组成的复合托盘,刻蚀选择比调整范围更大,刻蚀角度的变化范围更大。进行刻蚀时,可以通过调整刻蚀参数,调整刻蚀选择比,实现刻蚀角度的多次变化,且变化范围较大,形成类似漏斗形状的刻蚀沟道,使得刻蚀沟道的坡度较缓。并且,利用该刻蚀托盘进行刻蚀,刻蚀角度从较大到较小,使得刻蚀沟道的底宽较小,且使得小刻蚀角度对于顶宽影响较小,使得刻蚀沟道在所述LED外延芯片的中的占比相对较小。

基本信息
专利标题 :
一种刻蚀托盘及刻蚀方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114284201A
申请号 :
CN202111626631.0
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘伟邬新根刘英策林锋杰张阿茵崔恒平蔡玉梅蔡海防
申请人 :
厦门乾照光电股份有限公司
申请人地址 :
福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔天路259-269号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
耿苑
优先权 :
CN202111626631.0
主分类号 :
H01L21/687
IPC分类号 :
H01L21/687  H01L33/00  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21/683
用于支承或夹紧的
H01L21/687
使用机械装置的,例如卡盘、夹具或夹子
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/687
申请日 : 20211228
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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