本发明提出了一种新型的翻盖式芯片测试座，包括基座，上盖以及下压组件，所述下压组件包括连杆单元和压杆单元，所述压杆单元由打开状态转动至测试状态时，所述压杆单元对所述连杆单元施加向下的作用力，使所述连杆单元通过所述浮动组件带动所述上盖向下运动。本发明利用杠杆原理，施加较小的作用力即可满足测试下压力的需求，方便了测试人员的操作；还能够根据待测芯片的类型，通过探针固定组件将相应数量的传输电流或信号的探针固定，增大了本测试座的适用范围。