一种芯片测试用试验台
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试用试验台，包括：台体、输送辊及安装架，所述台体上设置有安装槽，所述安装槽内侧对称安装有输送辊，所述输送辊上连接有承载带，所述台体上固定有安装架，所述台体下端设置有控制器，所述台体上安装有伺服电机。本实用新型通过伺服电机带动输送辊及承载带转动能够将定位槽内侧芯片依次输送至测试组件下方通过柔性测试探针进行测试，以此能够提高测试效率，同时方便合格芯片的收集。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试用试验台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123039673.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-01
授权号 ：
CN216434290U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
林高云
申请人 ：
深圳市芯都半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区龙岗街道龙西社区楼吓牌坊南面工业园厂房6栋1层
代理机构 ：
广东奥益专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
田树杰
优先权 ：
CN202123039673.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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