无光刻胶制备有机半导体微器件的光刻方法及微器件
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种无光刻胶制备有机半导体微器件的光刻方法及微器件。所述光刻方法包括:提供有机半导体材料层,并在其上覆设图案化掩模,使其表面的选定区域从图案化掩模中露出;以功能化改性剂与选定区域接触,同时以选定波长的光照射选定区域,从而将选定区域内的有机半导体材料转化为能够被选定溶剂溶解的物质;去除图案化掩模,并以选定溶剂充分清洗经上一步处理后的有机半导体材料层,从而获得图案化的有机半导体材料层。本发明所提供的光刻方法无需使用光刻胶及相应的显影剂和刻蚀剂等,对基底材料不会造成损伤,提高了有机半导体微器件的性能;并且该光刻方法工艺过程简便、可控,能够显著地降低有机半导体微器件的制造成本。

基本信息
专利标题 :
无光刻胶制备有机半导体微器件的光刻方法及微器件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114527627A
申请号 :
CN202210225965.5
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-03-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
况永波吴艳玲刘德宇乐家波
申请人 :
中国科学院宁波材料技术与工程研究所
申请人地址 :
浙江省宁波市镇海区庄市大道519号
代理机构 :
南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王茹
优先权 :
CN202210225965.5
主分类号 :
G03F7/20
IPC分类号 :
G03F7/20  G03F7/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F7/00
图纹面,例如,印刷表面的照相制版如光刻工艺;图纹面照相制版用的材料,如:含光致抗蚀剂的材料;图纹面照相制版的专用设备
G03F7/20
曝光及其设备
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G03F 7/20
申请日 : 20220309
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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