半导体晶片的清洗工装与清洗方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种半导体晶片的清洗工装与清洗方法,半导体晶片的清洗工装包括第一夹板与第二夹板;第一夹板设有多个第一通孔,每个第一通孔的一侧设有沉槽;沉槽设于第一夹板的第一表面,沉槽的开口端设于第一通孔的孔壁,沉槽与第一通孔形成连通结构;第二夹板上设有多个第二通孔,每个第二通孔的一侧设有凸起,凸起设于第二夹板的第一表面;多个第一通孔与多个第二通孔一一相对,凸起的一端位于沉槽内,以基于凸起的端面与沉槽的槽底在连通结构内限定出容纳空间。本发明便于对半导体晶片进行分离存放,防止半导体晶片在清洗中出现叠片,可实现对半导体晶片的充分清洗,防止半导体晶片在清洗中出现崩飞、破损或叠片,从而达到较好的清洗效果。
基本信息
专利标题 :
半导体晶片的清洗工装与清洗方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114378085A
申请号 :
CN202210285422.2
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-03-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭春霞李智魏金鑫兰宇张健王纪东王颖何远
申请人 :
北京晨晶电子有限公司
申请人地址 :
北京市朝阳区酒仙桥路2号
代理机构 :
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 :
沈军
优先权 :
CN202210285422.2
主分类号 :
B08B11/02
IPC分类号 :
B08B11/02 H01L21/02 H01L21/67
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B08
清洁
B08B
一般清洁;一般污垢的防除
B08B11/00
专门适用于清洁柔韧的或精致的物品的方法或装置
B08B11/02
清洁时抓住物品的装置
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B08B 11/02
申请日 : 20220323
申请日 : 20220323
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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