宽能带隙半导体横向沟槽场效应晶体管及制造方法
专利权的终止
摘要

描述了一种结型场效应晶体管。该晶体管由宽能带隙半导体材料制成。该器件包括源极、沟道、漂移和漏极半导体层,以及p型注入的或肖特基栅极区。源极、沟道、漂移和漏极层可以外延生长。与源极、栅极和漏极区之间的欧姆触点可以形成在晶片的同一侧。该器件根据垂直沟道宽度可以具有不同的阈值电压,并且对相同的沟道掺杂可以实现为既用于耗尽模式操作又用于增强模式操作。该器件可用于数字、模拟和单片微波集成电路。还描述了制造包含该器件的晶体管和集成电路的方法。

基本信息
专利标题 :
宽能带隙半导体横向沟槽场效应晶体管及制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101317271A
申请号 :
CN200580046793.X
公开(公告)日 :
2008-12-03
申请日 :
2005-11-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
伊格尔·桑金杰弗里·B.·卡萨德约瑟夫·N.·梅里特
申请人 :
半南实验室公司
申请人地址 :
美国密西西比
代理机构 :
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 :
付建军
优先权 :
CN200580046793.X
主分类号 :
H01L29/74
IPC分类号 :
H01L29/74  H01L29/423  H01L31/111  
法律状态
2017-01-18 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101699003040
IPC(主分类) : H01L 29/74
专利号 : ZL200580046793X
申请日 : 20051130
授权公告日 : 20110803
终止日期 : 20151130
2013-11-06 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101670462478
IPC(主分类) : H01L 29/74
专利号 : ZL200580046793X
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : SS SC知识产权有限公司
变更后权利人 : PI公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国密西西比
变更后权利人 : 美国加利福尼亚州
登记生效日 : 20131016
2012-01-25 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101271527613
IPC(主分类) : H01L 29/74
专利号 : ZL200580046793X
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 半南实验室公司
变更后权利人 : SS SC知识产权有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国密西西比
变更后权利人 : 美国密西西比
登记生效日 : 20111215
2011-08-03 :
授权
2009-01-28 :
实质审查的生效
2008-12-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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