封装结构及半导体器件
授权
摘要

本公开提供一种封装结构及半导体器件,涉及半导体封装技术领域。该封装结构包括芯片组、导电膜层、引线和封装层,其中:芯片组,包括沿垂直方向叠层设置的多个芯片单元,且各芯片单元至少一端形成有凹槽;导电膜层,随形贴合于凹槽表面;引线,一端连接于导电膜层,另一端延伸至芯片单元外侧;封装层,至少设于各芯片单元之间,用于将各芯片固定连接。本公开的封装结构可减小封装结构的尺寸,提高存储容量。

基本信息
专利标题 :
封装结构及半导体器件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922156336.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-04
授权号 :
CN210805767U
授权日 :
2020-06-19
发明人 :
张志伟
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
代理机构 :
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 :
王辉
优先权 :
CN201922156336.8
主分类号 :
H01L25/065
IPC分类号 :
H01L25/065  H01L23/31  H01L23/495  H01L21/48  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L25/00
由多个单个半导体或其他固态器件组成的组装件
H01L25/03
所有包含在H01L27/00至H01L51/00各组中同一小组内的相同类型的器件,例如整流二极管的组装件
H01L25/04
不具有单独容器的器件
H01L25/065
包含在H01L27/00组类型的器件
法律状态
2020-06-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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