光刻结构和半导体结构
授权
摘要
本实用新型实施例提供一种光刻结构和半导体结构,涉及半导体技术领域。半导体结构包括光刻结构,光刻结构包括抗反射层、在抗反射层上形成的热缩材料层、在热缩材料层上形成的平坦层和在平坦层上形成的光刻胶层。这样,通过在光刻胶层的下方先涂布热缩材料层,形成的光刻结构再经过后续的曝光、显影,在光刻胶层上形成光刻图案,再经过硬烤之后,热缩材料层经过均匀收缩,能够使已形成的光刻图案进一步精细化,以便于后续工艺根据光刻图案形成更精细化的微缩图案。所以,本实用新型实施例提供的光刻结构和半导体结构能够用于形成更精细化的微缩图案,为形成微缩图案创造了结构基础,并且能够运用于利用光刻工艺制作的半导体器件中。
基本信息
专利标题 :
光刻结构和半导体结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021575839.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-31
授权号 :
CN213212111U
授权日 :
2021-05-14
发明人 :
陈庆煌張凱翔柯思羽刘志成
申请人 :
泉芯集成电路制造(济南)有限公司
申请人地址 :
山东省济南市高新区机场路7617号411-2-9室
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
严诚
优先权 :
CN202021575839.5
主分类号 :
H01L21/027
IPC分类号 :
H01L21/027
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/027
未在H01L21/18或H01L21/34组中包含的为进一步的光刻工艺在半导体之上制作掩膜
法律状态
2021-05-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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