晶圆处理装置
公开
摘要

本发明提供了一种晶圆处理装置。该晶圆处理装置包括反应腔室;反应腔室设有支撑座,支撑座用于承载晶圆;反应腔室的顶侧可拆卸连接有喷头面板,喷头面板用于向晶圆喷射等离子体;支撑座设有陶瓷件,陶瓷件具有耐腐蚀性。本发明的晶圆处理装置通过将支撑座和喷头面板设置于反应腔室内,能够对设置于反应腔室内的晶圆进行支撑和处理,并通过在支撑座设置陶瓷件能够限制等离子体的范围,且能够避免陶瓷件或支撑座与反应腔室侧壁之间发生异常放电,并能够减缓支撑座以及陶瓷件在长期技术处理的环境作用下的影响,减缓反应腔室内颗粒和微粒物质产生的速度,降低反应腔内颗粒物质、微粒物质或漂浮物质的数量,延长陶瓷件的使用寿命,降低宕机频率。

基本信息
专利标题 :
晶圆处理装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114300335A
申请号 :
CN202111582549.2
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
董文惠谈太德张志鹏
申请人 :
拓荆科技股份有限公司
申请人地址 :
辽宁省沈阳市浑南区水家900号
代理机构 :
上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄海霞
优先权 :
CN202111582549.2
主分类号 :
H01J37/32
IPC分类号 :
H01J37/32  H01L21/67  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J37/00
有把物质或材料引入使受到放电作用的结构的电子管,例如为了对其检验或加工的
H01J37/32
充气放电管
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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