一种硅片处理方法和装置
实质审查的生效
摘要
本申请实施例提供了一种硅片处理方法和装置。所述硅片处理方法包括:对硅片进行抛光处理,以去除硅片表面的损伤层;提供反应气体,其中,所述反应气体至少包括氧气和含卤气体;在第一预设温度下,采用所述氧气和所述含卤气体与所述硅片的表面反应,在所述硅片的表面形成微绒面,并去除所述硅片的金属杂质。本申请实施例可以减少化学品和水资源的消耗,减小硅片微绒面制作过程对于环境的影响,避免对硅片及其微绒面造成损伤,还有利于形成覆盖率更高和纵横比更高的微结构,以增强所述微绒面的陷光效果,提升所述微绒面的质量。而且,还可以去除所述硅片表面的金属杂质,提高了所述硅片的纯度。
基本信息
专利标题 :
一种硅片处理方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114464699A
申请号 :
CN202111680653.5
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邓浩韩伟
申请人 :
隆基绿能科技股份有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市长安区航天中路388号
代理机构 :
北京润泽恒知识产权代理有限公司
代理人 :
周海业
优先权 :
CN202111680653.5
主分类号 :
H01L31/18
IPC分类号 :
H01L31/18 H01L31/0236 C30B33/12 C30B29/06
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 31/18
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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