一种晶体生长气氛的控制装置及其控制方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及晶体的生产技术领域,公开一种晶体生长气氛的控制装置及其控制方法。其中晶体生长气氛的控制装置包括:晶体生长组件,其内限定出反应腔;气压测量件,用于检测反应腔内的气压;气体控制组件,与反应腔连通,气体控制组件均包括用于设定通入反应腔的工艺气体的气体流量的气体流量限定件;抽气组件,与反应腔连通,抽气组件能够将反应腔内的气体向外抽出,以使反应腔内的气压位于预设气压范围内。本发明公开的晶体生长气氛的控制装置的抽气组件能够将反应腔内的气体向外抽出,使得气压测量件检测的反应腔内的气压位于预设气压范围内,提升了晶体的生长质量。

基本信息
专利标题 :
一种晶体生长气氛的控制装置及其控制方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114351245A
申请号 :
CN202210131896.1
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-02-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭超母凤文
申请人 :
北京青禾晶元半导体科技有限责任公司
申请人地址 :
北京市海淀区花园北路25号小关(厂南区)4号楼1层146
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
黄建祥
优先权 :
CN202210131896.1
主分类号 :
C30B15/20
IPC分类号 :
C30B15/20  C30B29/36  
IPC结构图谱
C
C部——化学;冶金
C30
晶体生长
C30B
单晶生长;共晶材料的定向凝固或共析材料的定向分层;材料的区熔精炼;具有一定结构的均匀多晶材料的制备;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料之后处理;其所用的装置
C30B15/00
熔融液提拉法的单晶生长,例如Czochralski法
C30B15/20
控制或调节
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : C30B 15/20
申请日 : 20220214
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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